日本SAN-EI 50mm*50mm雙燈太陽(yáng)光模擬器

日本SAN-EI 50mm*50mm雙燈太陽(yáng)光模擬器,又稱寬光譜太陽(yáng)光模擬器，交付日本產(chǎn)業(yè)綜合技術(shù)研究所AIST使用；該設(shè)備采用雙燈組合設(shè)計(jì)，光譜不匹配性優(yōu)于±5%，更加接近AM1.5G標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)光光譜，在很大程度上避免了光譜失配對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，而且有效光譜范圍300nm~1800nm，為深層次太陽(yáng)能電池計(jì)量測(cè)試、研究和研發(fā)新一代太陽(yáng)能電池提供有效手段；對(duì)于測(cè)量單結(jié)，疊層，多結(jié)太陽(yáng)能電池光電特性尤為重要。

可廣泛應(yīng)用于各種太陽(yáng)能電池的測(cè)試：

 非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)

 微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)

 半導(dǎo)體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]

 燃料敏化電池(DSSC)

 有機(jī)導(dǎo)電高分子(Organic/polymer solar cells)

 CIGS (銅銦硒化物)等，尤其是對(duì)于薄膜多結(jié)太陽(yáng)能電池測(cè)試；OPV有機(jī)太陽(yáng)能電池、PVK鈣鈦礦太陽(yáng)能電池、DSSC燃料敏化電池、量子點(diǎn)太陽(yáng)能電池、有機(jī)無(wú)機(jī)雜化太陽(yáng)能電池等等。還可應(yīng)用于材料、化學(xué)、能源等領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)中。

技術(shù)參數(shù)： AM1.5G & AM0高匹配光譜！

匹配標(biāo)準(zhǔn)的太陽(yáng)能模擬器（A+A+A+），太陽(yáng)光模擬器（寬光譜），Super AAA Class Solar Simulator；太陽(yáng)能電池IV測(cè)試儀，量子效率，光譜響應(yīng)及IPCE測(cè)量系統(tǒng)；
 1.采用雙光源混合燈體設(shè)計(jì)；
 2.有效照光面積：2inch×2inch，4inch×4inch，6inch×6inch，8inch×8inch，10inch×10inch，12inch×12inch，500mm*500mm等（其他尺寸可定制）；（組件/模組測(cè)試儀、穩(wěn)態(tài)組件太陽(yáng)光模擬器）；
 3.光譜不匹配度：AM1.5G, ＜±5%, A+ Class；
 4.輻射空間不均勻性：＜2%，A Class；  
 5.時(shí)間不穩(wěn)定性：＜1%，A Class；
 6.輻射強(qiáng)度：輻射強(qiáng)度可調(diào)±30%；
 7.連續(xù)照射模式；

 8.光強(qiáng)實(shí)時(shí)反饋控制單元；

 目前此款設(shè)備已被中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院和日本AIST所采用。

主要特點(diǎn)：

 1.匹配標(biāo)準(zhǔn)：ASTM 標(biāo)準(zhǔn)、IEC 標(biāo)準(zhǔn)、JIS 標(biāo)準(zhǔn)；
 2.可以任意調(diào)節(jié)照射方向以及燈的位置；
 3.用戶可自己設(shè)定光照強(qiáng)度；
 4.燈使用壽命計(jì)時(shí)；

實(shí)測(cè)光譜圖：

AM1.5G光譜

AM0光譜

擴(kuò)展功能：
     • 測(cè)試源表；
     • 測(cè)試探針臺(tái)；
     • 標(biāo)準(zhǔn)電池reference Cell；
     • 多路控制器；
     • 溫控測(cè)試臺(tái)；
     • IV測(cè)試軟件:
     • 基本測(cè)量功能： 完整 I-V 曲線測(cè)量， 完整 P-V 曲線測(cè)量，短路電流 Isc 測(cè)量，開(kāi)路電壓 Voc 測(cè)量， 短路電流密度 Jsc 測(cè)量，峰值功率 Pmax 測(cè)量，峰值功率電流 Imp 測(cè)量，峰值功率電壓 Vmp 測(cè)量，效率測(cè)量，填充因子 FF 測(cè)量，串聯(lián)電阻 Rs 測(cè)量，并聯(lián)電阻 Rsh 測(cè)量；
     • Light光照條件下，太陽(yáng)能電池IV 和PV曲線測(cè)量（包含F(xiàn)orward正向掃描和Reverse反向掃描測(cè)試功能）；
     • Light光照條件或Dark無(wú)光照條件下，太陽(yáng)能電池I-V 和P-V曲線測(cè)量，I-t曲線和V-t曲線測(cè)量；
     • Bias偏壓或Steady State穩(wěn)態(tài)測(cè)量功能（太陽(yáng)能電池效率衰減測(cè)試功能）；
     • MPPT 追蹤測(cè)試功能（Pmax 功率點(diǎn)隨時(shí)間的變化）；
     • Repeatability 重復(fù)性測(cè)試功能。

另外，我公司為客戶提供其他類型太陽(yáng)能測(cè)性能試設(shè)備：

    • 太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)、IPCE測(cè)試系統(tǒng)、量子效率測(cè)試系統(tǒng)；

    • 太陽(yáng)能電池測(cè)量系統(tǒng)（光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng),IPCE測(cè)試系統(tǒng),量子效率測(cè)試系統(tǒng)，I-V曲線測(cè)量系統(tǒng)），太陽(yáng)能電池測(cè)試儀；

    • 太陽(yáng)能電池I-V曲線測(cè)量系統(tǒng)；

    • I-V 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)；

    • 大面積太陽(yáng)能模擬器/太陽(yáng)光模擬器/雙燈太陽(yáng)光模擬器；

    • 太陽(yáng)能電池分選機(jī)；

    • 太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀；

    • 分光輻射度計(jì)，

    • 參考電池/標(biāo)準(zhǔn)電池，

    • 有機(jī)太陽(yáng)能電池載流子遷移率測(cè)量系統(tǒng)；

    • 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池載流子遷移率測(cè)量系統(tǒng)；