OLED光譜分析系統

我公司推出OLED器件和鈣鈦礦LED發射角度光譜分析系統（OLED光譜分析儀）、載流子遷移率測量系統、電學性能評估系統以及軟件模擬研發系統，為廣大科研工作者和研發機構提供了有力的測試工具。

OLED光譜分析系統用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其其他發光器件的發射光譜特性和極化角，同事也可測量器件的s和p偏振光譜、發射光譜與角度的關系，計算出發射層中激子的發光角度及位置分布。

產品名稱：OLED/LED電致發光/光致發光測量系統，EL/PL測量系統，多角度光譜測量系統，發光效率測量系統，發光光譜測量系統，外量子效率測量系統。

技術優勢：

  • 角度依賴的PL光致發光譜分析

  • 角度依賴的EL電致發光譜分析

  • 角度依賴的發光分析

  • 兼容頂發光和底發光結構的OLED的及其他發光器件

  • p- and s-偏振態檢測

  • 偏振角度連續掃描

  • 發光層中發光偶極子檢測及偶極子趨向分析

  • 兼容各種幾何尺寸樣品

  • 樣品便捷對準

  • 可與Setfos結合，對發光層進行分析

測量功能：

  • 顏色效率分析

  • 可視角分析

  • 量子效率EQE

  • 流明效率lm/W

  • 發光效率Cd/A

  • 發光區域擬合

  • 發光趨向分析

  • 發光特性角度依賴分析

  • 光譜和顏色VS.發射角

  • 發光層中偏振態分析

  • 散射特性分析

  • 工作點

  • 效能 (cd/A)

  • CIE坐標

  • 色溫和顯色指數等分析

  • 電流-電壓-亮度(J-V-L)曲線測量

  • 光譜輻照度/強度

技術規格：

測試模式：

測量實例：